反射率测试仪——广州景颐光电科技有限公司是专门做反射率检测仪的公司

反射率检测仪

反射率检测仪是一套全波长显微球面光学元件光谱分析仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/反射率。适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量。还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。

仪器特点

物镜对焦于被测物微小区域（φ60μm）颜色测定 X Y色度图，x, y, L, a, b, 饱和度，主波长等 探测器，能在几秒内实现重现性高的测定无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率。

测定范围约φ60μm(使用10×对物镜时) 约φ30μm(使用20×对物镜时)设备重量约15kg（光源内置）设备尺寸300(W)×550(D)×570(H)mm使用环境水平且无振动的场所。

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硅片反射率检测仪

21世纪的人类搭上了科技飞速进步的快车，生活中许多微量元素都经过加工制作成半导体等电子元件。

其中硅片的用途在工业生产中占着不可或缺的地位，通常被应用于如计算机、电信和电视，还有的应用于先进的微波传送、激光转换系统、诊断和设备、防御系统和NASA航天飞机等领域。

景颐光电反射率检测仪是一套全波长380nm-1000nm的光谱分析仪，能快速准确地测量硅片的反射率。

适用于评估硅片的遮盖力，或金属化薄膜，阳极氧化铝或陶瓷的简单遮光分选任务。

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近年来，随着激光技术的快速发展，以离轴积分腔输出光谱技术（OA-ICOS）为代表的高灵敏光谱探测技术得到了较快的发展和广泛的应用。离轴积分腔输出光谱技术由于具有装置简单、易于操作、抗干扰能力强、灵敏度高等优点越来越受关注，常被用于大气和环境科学、诊断、工业生产过程等领域的研究中。OA-ICOS采用两片镀介质膜的反射镜构成一个稳定的光学谐振腔，镀膜技术的快速发展使得镜片反射率可以达到 99.999%甚至更高，在一定程度上提高了系统的检测灵敏度和探测极限，但是过高的反射率带来的微小数值变化会造成系统灵敏度以及探测范围的波动。

此外，法布里珀罗腔干涉造成的激光位相变化容易引起过量光强波动杂散耦合腔模噪声，传输功率显著降低，这将导致系统的检测下限和输出光谱信号的信噪比严重降低，具有低腔模噪声的连续光滑吸收光谱显得至关重要i。射频噪声源的工作原理在于在注入电流中产生统计上不相关的随机波动，然后将其转化为光频噪声。终的结果是激光相干时间明显缩短，减小了光程干涉的影响，从而提高了检测灵敏度和光谱信噪比。

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